+7-495-933-43-17
microscop@microscop.ru

Экспертный анализ микроструктуры и состава без затрат на собственное оборудование и в кратчайшие сроки

«Микромир определяет свойства, поведение и надежность материалов и изделий. Наша миссия – соединить микромир с окружающим миром, сделав его доступным и понятным для решения научных и технических задач.

Вот уже более 20 лет мы помогаем университетам, академическим институтами промышленным предприятиям проводить исследования мирового уровня. Высокотехнологичная лаборатория СМА объединяет весь цикл исследований от пробоподготовки до комплексного 2Dи 3D анализа методами световой, рентгеновской и электронной микроскопии. Наши современные методы исследований позволяют определять морфологию, структуру, химический, элементный и минеральный состав материалов.

Мы будем рады предоставить вам лабораторные услуги, поможем избежать серьезных капитальных вложений с вашей стороны и станем надежным партнером в решении ваших актуальных задач».

Владимир Шкловер, директор ООО СМА

Металлы и сплавы

Материалы для аддитивных технологий

Композитные материалы

Стекла и полимеры

Керамические материалы

Строительные материалы

Наноматериалы и наночастицы

Катализаторы

Тонкопленочные покрытия

Микроэлектромехани-ческие системы (МЭМС)

Полупроводниковые материалы

Гетероструктуры и тонкие пленки

Интегральные микросхемы

Микроэлектромеханические системы (МЭМС)

Печатные платы

Батареи и аккумуляторы

Косметические средства

Лекарственные препараты

Биосовместимые материалы

Имплантаты и протезы

Фиксированные биологические ткани

Наночастицы

Сопровождение геологоразведки, разработки и обогащения рудных месторождений твердых полезных ископаемых

Определение текстурно-структурных особенностей и минерального состава горных пород

Моделирование фильтрационно-емкостных свойств пород коллекторов нефти и газа

растровая электронная микроскопия

фокусированный ионный пучок

режим естественной среды и низкого вакуума

просвечивающая электронная микроскопия

cканирующий режим (STEM, HAADF)

съемка с атомарным разрешением

электронная дифракция

эксперименты с in-situ нагревом образца до 1300°С

спектроскопия характеристических потерь энергии электронами

минералогическое картирование аншлифов (Maps Mineralogy, QEMSCAN)

рентгенофлуоресцентный анализ

энергодисперсионный рентгеновский микроанализ

рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия

профилирование элементного состава по глубине

рентгеновская микротомография

световая микроскопия

флуоресцентная конфокальная микроскопия

лазерная и оптическая гранулометрия

негативное контрастирование биоматериалов

напыление токопроводящих слоев

изготовление аншлифов

изготовление образцов для просвечивающей электронной микроскопии

макро

микро

нано

+7-495-933-43-17

microscop@microscop.ru

Москва, Сколковское шоссе, д.45, офис 20 (корпус "Урал")